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菲希爾鍍金層測厚儀FISCHER代理信息
點擊次數:80 更新時間:2025-04-26
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240儀器特點
用途廣泛的鍍層厚度測量
通過組合高壓和濾片,可精準測量極薄(如50 nm Au)至較厚(如100 μm Sn)的鍍層,覆蓋多種厚度需求 。
高精度微聚焦技術
配備微聚焦X射線管,最小測量點可達100 μm,適用于微小結構(如連接器、觸點)的精細檢測 。
高效計數率與穩(wěn)定性
比例計數器支持高達數千cps(每秒計數率),確??焖贉y量和良好的重復精度,即使短時間測量也能保證結果可靠性 。
便捷的樣品放置設計
X射線源位于測量艙底部,射線方向從下至上,結合大容量C型開槽艙體,便于放置大尺寸或扁平樣品(如印刷線路板) 。
靈活的測量配置
支持手動或自動切換準直器與濾片,適應不同鍍層材料和結構(如多層鍍層、同元素鍍種)